Descripción

El estudio de nuevos materiales en el ámbito de la nanotecnología exige del uso de herramientas de alta capacidad y resolución.
A partir de la interacción de un haz de electrones con la materia, la técnica de análisis por Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) ofrece soluciones de alta resolución en aplicaciones agroalimentarias, químicas, biológicas y de nuevos materiales (piezas metálicas, catalizadores, membranas).

Nuestro servicio:

• Acondicionamos y preparamos las muestras sólidas para su análisis microscópico.
• Analizamos e interpretamos las estructuras microscópicas y morfológicas de las muestras ensayadas.
• Determinamos cualitativamente rendimientos de procesos de transformación estructural para su optimización a partir del análisis de imágenes SEM.

Nuestro valor:

• CARTIF cuenta con un Microscopio SEM – FEI QUANTA 200 de alta resolución.
• CARTIF cuenta con un equipo multidisciplinar con experiencia, así como con un completo equipamiento necesario para trabajar en un espectro muy amplio de áreas tecnológicas.